파운데이션 모델·제조AI진행 중

고대역폭 메모리의 불량 검출 및 분석을 위한 AI 기반 비파괴 장비 기술

고대역폭 메모리의 불량을 검출하고 분석하기 위한 AI 기반 비파괴 장비 기술을 연구합니다.

연구기간
2025.09 — 2028.05전체 연구기간 확인
연구책임자
고영명
지원기관
한국산업기술기획평가원

연차별 협약 이력

같은 제목의 협약을 통합했으며 원래의 협약 기간과 금액, 책임자 정보는 보존했습니다. 협약 간 기간이 겹치더라도 원본 금액은 그대로 합산했습니다.

협약별 연구기간, 책임자 및 금액
연구기간책임자협약금액
2025.09.01
— 2026.05.31
고영명100,000,000원
2026.06.01
— 2027.03.31
고영명150,000,000원
등록 협약금액 합계250,000,000원
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